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Dipartimento di Fisica

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Spettroscopia Elettronica (Lezioni ed Esercitazioni)

Corso di Studio:Corso di Studio: , Anno Accademico 2014/2015

_INSEGNAMENTI_SSD1 Sett. Scien./disciplinare: FIS/03

Tipologia Attività Formativa: Tipologia Attività Formativa: Altre attivitā formative

Ambito Disciplinare: Ambito Disciplinare: A scelta dello studente

Docente:Docente: Formoso Vincenzo

Tipologia di Copertura: Tipologia di Copertura: Affidamento Retribuito

CFU CFU: 5

Periodo didattico: Periodo didattico: Secondo Semestre

Anno Corso: 2

Ore di lezione: Ore di lezione: 32

Ore di esercitazione: Ore di esercitazione: 12

Ore di studio individuale: Ore di studio individuale: 81

Informazioni sull'insegnamento: Informazioni sull'insegnamento:


Programma

ITALIANO
1. Interazione radiazione-materia: elettroni, fotoni, ioni e neutroni.
2. Scattering elastico ed anaelastico
3. Libero cammino medio degli elettroni nei solidi. Lunghezza di attenuazione. Specificitā alla superficie.
4. Struttura elettronica dei solidi.
5. Tecniche di produzione e di misura degli elettroni e dei fotoni.
6. Analisi qualitativa e quantitativa degli spettri dei raggi-X e degli elettroni:
a. raggi-x (XPS)
b. fluorescenza (XRF)
c. Auger (AES)
d. Perdita di energia degli elettroni (EELS)
e. Assorbimento dei raggi-X (XAS, EXAFS)
f. Onde stazionarie (XSW, CS-NIXSW)
7. Microscopia
Elettronica a Scansione. Microanalisi. Microscopia Elettronica in Trasmissione. EFTEM (Energy Filtered Transmission Electron Microscopy)

ENGLISH
1. Interaction of radiation with matter: electrons, photons, ions and neutrons.
2. Elastic scattering and anaelastic
3. Mean free path of electrons in solids. Attenuation Length. Specificity to the surface.
4. Electronic structure of solids.
5. Electron and foton sources. How to measure electrons and photons.
6. Qualitative and quantitative analysis of the spectra of X-rays and electrons:
a. x-ray (XPS)
b. fluorescence (XRF)
c. Auger (AES)
d. Elettroni energy loss (EELS)
e. X-ray absorption (XAS, EXAFS)
f. Standing waves (XSW, CS-NIXSW)
7. Scanning Electron Microscopy. Microanalysis. Transmission Electron Microscopy. EFTEM (Energy Filtered Transmission Electron Microscopy)

Testi di riferimento

G. Ertl and J.Kuppers, Low Energy Electrons and Surface Chemistry;
D.P. Woodruff and T.A. Delchar, Modern Techiniques of Surface Science;
R.F. Egerton, Electron Energy-loss Spectroscopy in the Electron Microscope;
J.H. Eberhart, Analyse Structurale et Chimique des Materiaux DUNOD.

Modalità di verifica dell'apprendimento

ITALIANO - Prova orale

ENGLISH - Oral exam

Obiettivi formativi

ITALIANO
Il corso si propone di fornire agli studenti:
1. le competenze atte a caratterizzare materiali innovativi;
2. le basi per interpretare gli spettri AES, XPS, EELS;
3. nozioni fondamentali di microscopia elettronica con particolare attenzione alla mappatura chimica del campione sia mediante fluorescenza che mediante perdita di energia degli elettroni;
4. Insegnare i fondamenti delle principali tecniche sperimentali e fornire le competenze necessarie per l'utilizzo delle relative apparecchiature.

ENGLISH
The course aims to provide students with:
1. competencies for characterizing new materials;
2. the basis for interpreting the spectra AES, XPS, EELS;
3. fundamentals of electron microscopy with particular attention to the chemical mapping of the sample by means of fluorescence or by secondary electrons;
4. Teach the fundamentals of the main experimental techniques and provide the skills necessary for the use of its equipment.

Note

Lingua d'insegnamento: Italiano
Modalitā di erogazione: Frontale
Modalitā di frequenza: Obbligatoria

Commissione d'esame
Presidente Vincenzo Formoso
Commissari Tommaso Caruso, Gennaro Chiarello, Elio Colavita

Anno Accademico