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Dipartimento di Fisica

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Laboratorio di Fisica della Materia (Lezioni e Laboratorio)

Corso di Studio:Corso di Studio: , Anno Accademico 2014/2015

_INSEGNAMENTI_SSD1 Sett. Scien./disciplinare: FIS/03

Tipologia Attività Formativa: Tipologia Attività Formativa: Caratterizzante

Ambito Disciplinare: Ambito Disciplinare: Microfisico e della Struttura della Materia

Docente:Docente: Cazzanelli Enzo

Tipologia di Copertura: Tipologia di Copertura: Compito Didattico

CFU CFU: 6

Periodo didattico: Periodo didattico: Secondo Semestre

Anno Corso: 1

Ore di lezione: Ore di lezione: 24

Ore di laboratorio: Ore di laboratorio: 36

Ore di studio individuale: Ore di studio individuale: 90

Informazioni sull'insegnamento: Informazioni sull'insegnamento:


Programma

ITALIANO
1) Introduzione alle indagini sulla materia: misure macroscopiche, microscopie, spettroscopie, diffrazione. Tecniche calorimetriche: DTA, DSC e TGA .
2) Sensori fotonici, efficienza quantica.
3) Polarizzazione della luce: naturale, lineare e circolare.
4) Effetti di birifrangenza indotta da campoelettrico e da stress uniassiale.
5) Non-linearità ottiche di I e II ordine.
6) Esperimenti con fenditure. Legge della diffrazione . Dispersione spettrale e dispersione angolare, relazioni con gli ordini di diffrazione e la densità di righe del reticolo. Cenni ai cristalli come reticoli per raggi X. Allargamento dei picchi di diffrazione nei nanocristalli. Fattore di Debye -Waller come perdita di definizione del reticolo cristallino.

ENGLISH
1) Investigations on the matter, introduction: macroscopic properties measurements, microscopy, spectroscopy, diffraction. Calorimetry: DTA, DSC and TGA.
2) Sources of e.m. radiation, natural light from hot material. Black-body emission. Artificial sources.
3) Light polarization: natural, linear, circular. Various kinds of polarizers.
4) Birefringent polarizers (Nicol, Glan Foucault, Glan Thomson) and beamsplitters (Wollaston).
5) Non linear Optics, I and II order.
6) Slit diffraction due to wave interference. Bragg diffractioin law for a grating. Transmission and reflection gratings. Spectral dispersion of a grating. Angular and spatial dispersion. Resolving power of a grating. Crystals as gratings for X-ray. Broadening of XRD lines in nanocrystals. Debye-Waller factor and crystal order.

Propedeuticità

Elementi di relatività, elementi di fisica delle particelle.

Testi di riferimento

Methods of Experimental Physics, vol. 26, cap. 6(Detectors)
Dichtburn, “Light”.
E. Hecht, Ottica
G.S. Landsberg, Ottica I-II
G.C. Baldwin, “An introduction to nonlinear optics”
C. Kittel, “Introduzione alla fisica dello stato solido”, cap. 1-2 (diffrazione
da raggi X)

Modalità di verifica dell'apprendimento

ITALIANO - Prova orale

ENGLISH - Oral exam

Obiettivi formativi

ITALIANO
Conoscenza dei principali metodi per la crescita di materiali, solidi e film sottili, e principali tecniche di caratterizzazione, metodi di misura delle
principali caratteristiche della radiazione e.m. (sensori, polarizzatori, interferometri, spettrometri)

ENGLISH
Study of the main methods for the growth of materials -solids and thin films- and main characterization techniques, methods of measurement of
the main characteristics of the e.m. radiation (sensors, polarizers, interferometers, spectrometers)

Note

Lingua d'insegnamento: Italiano
Modalità di erogazione: Frontale
Modalità di frequenza: Obbligatoria
Altro docente coinvolto: Raffaele Agostino
Tipologia di copertura: Compito didattico

Commissione d'esame
Presidente Enzo Cazzanelli
Commissari Lorenzo Caputi, Anna Cupolillo

Anno Accademico